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本发明公开一种校正信息载入方法，用于载入存储器的校正信息，包括如下步骤：于编程或擦除信号来到时，先读取该存储器的信息进行校验；若校验通过，则载入校正信息；以及进行常规功能操作，通过本发明，可实现对嵌入式系统中的存储器储存的数据进行校正，以保...
该专利属于上海宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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