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本发明涉及一种大数据量荧光分子断层成像重建方法，包括以下步骤：采用的全角度自由空间FMT成像系统采集待成像物体的荧光图像和白光图像；采用边缘检测方法提取每一幅白光图像中待成像物体的边界轮廓线，得到投影轮廓线图像；对每一幅投影轮廓线图像均采用...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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