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公开了一种测试待测装置(130)的概念，该概念包括：从至少一个测试通道集成电路(240-n)接收描述至少一个硬件资源(150)的期望操作的至少一个逻辑控制命令(U-CTRL-n)，所述至少一个测试通道集成电路被专用于借助于至少一个硬件资源(...
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