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一种测试电路，包括：基板；配线部分，具有多段配线；以及被测器件部分，被形成在基板上，并且具有被测器件主体和多个连接电极，其中，所述多个连接电极用于分别建立所述主体和所述多段配线之间的连接，将连接所述主体图案形成的平面上的旋转中心的位置和每一...
该专利属于索尼公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼公司授权不得商用。

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