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一种MOS晶体管的形成方法,包括如下步骤:提供半导体衬底;在所述半导体衬底上形成栅极结构;刻蚀所述半导体衬底,在所述栅极结构之间形第一沟槽,所述第一沟槽底部的宽度大于所述栅极结构之间的间距;刻蚀所述第一沟槽形成第二沟槽;在所述第二沟槽内形成...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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一种MOS晶体管的形成方法,包括如下步骤:提供半导体衬底;在所述半导体衬底上形成栅极结构;刻蚀所述半导体衬底,在所述栅极结构之间形第一沟槽,所述第一沟槽底部的宽度大于所述栅极结构之间的间距;刻蚀所述第一沟槽形成第二沟槽;在所述第二沟槽内形成...