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一种用于光刻机双工件台的三维微位移测量方法及传感装置制造方法及图纸
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下载一种用于光刻机双工件台的三维微位移测量方法及传感装置的技术资料
文档序号:8190559
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一种用于光刻机双工件台的三维微位移测量方法及其传感装置,属于IC制造和超精密测量及加工装备,其测量方法是霍尔微位移传感器的输出霍尔电压信号随宏、微双工件台相对位移呈线性变化,通过相互呈90°相位关系的三个霍尔微位移传感器测量三维微位移,外部...
该专利属于哈尔滨工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。
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