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本发明公开了一种片式封装分立器件测试装置，它包括电极底板（1）、穿孔限位板（2）和压板（3），电极底板（1）置于底层，穿孔限位板（2）位于电极底板（1）上表面，压板（3）位于穿孔限位板（2）上表面；本发明解决了本发明具有结构简单、通用性强、...
该专利属于贵州航天计量测试技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过贵州航天计量测试技术研究所授权不得商用。

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