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一种MEMS器件及其晶圆级真空封装方法技术
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文档序号:8186909
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本发明涉及一种MEMS器件及其晶圆级真空封装方法,其特征在于:采用硅硅直接键合技术实现晶圆级真空封装,硅衬底(10)上键合的硅结构层(15)采用低阻硅片,直接在硅结构层上刻蚀形成电互联引线(5),在硅盖帽(12)中引线通孔(13)中的电互联...
该专利属于华东光电集成器件研究所所有,仅供学习研究参考,未经过华东光电集成器件研究所授权不得商用。
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