温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型提出一种基质辅助激光解析离子源进样装置，该装置包括样品托盘；密封腔，密封腔内具有第一真空度；真空腔，真空腔内具有高于第一真空度的第二真空度，真空腔与密封腔相连且通过真空腔的前密封板与密封腔隔开；设在密封腔一侧、用于将样品托盘送入密...
该专利属于江苏天瑞仪器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏天瑞仪器股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。