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等离子体处理参数的检测制造技术
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文档序号:8165824
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一种用于监控封闭式等离子体处理空间(102)中的状况的系统。该系统包括传感器(338),被布置成被配备在该封闭式等离子体处理空间内,用于检测在该封闭式等离子体处理空间内的状况,以及调制电路(342),被连接到该传感器,并被布置成调制该传感器...
该专利属于安平丹斯有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过安平丹斯有限责任公司授权不得商用。
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