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本发明提供一种能够应对基板的微细化及复杂化，并能够减少零件数量以简化，且具有充分的接触压与行程的微细探针及使用该探针的检查用夹具。检查用探针的特征在于，利用分别形成在具有不同外径与内径的两支导电性的筒状部件上的缺口部分别作为弹性部发挥作用，...
该专利属于日本电产理德株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本电产理德株式会社授权不得商用。

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