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本发明公开了一种有源天线系统射频指标的测试方法和装置，将被测有源天线系统置于测试罩内进行射频指标的测试，测试罩包括天线阵列部分与无源网络部分，天线阵列部分与被测有源天线系统的天馈部分相同；其方法包括：测试罩单体校准：校准测试罩自身所产生的差...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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