【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种有源天线系统射频指标的测试方法，其特征在于，将被测有源天线系统置于测试罩内进行射频指标的测试，其中所述测试罩包括天线阵列部分与无源网络部分，所述天线阵列部分与所述被测有源天线系统的天馈部分相同；所述方法包括：测试罩单体校准：校准所述测试罩自身所产生的差损和相位偏移量；近场耦合校准：用两个经过所述测试罩单体校准的测试罩，对所述测试罩的近场耦合测试环境进行校准；射频指标测试：将所述被测有源天线系统置于校准后的所述测试罩内并与其构成近场耦合方式，其测试环境和所述近场耦合校准测试环境相同；使用校准过程得到的校准结果对所述测试环境进行补偿后，通过所述测试罩上的射频测试接口对所述被测有源天线系统进行射频指标测试，得到所述被测有源天线系统射频端口的射频指标。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王博明，李香玲，曹长江，韩香紫，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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