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本发明涉及一种动态补偿晶体频偏的方法，包括，在同步过程正常时，获得鉴相值正常的结果压控值，同时采集数模转换器DAC值正常的压控值，对压控值根据温度和时间分类处理；根据所述分类处理的压控值，获得晶体的温度参数和老化参数；在同步单元得不到同步信...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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