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一种金属-铁电体-绝缘体-半导体结构的制备方法,它是一种MFIS结构中Bi2SiO5绝缘层的原位生长技术,其特征在于:利用氧化铋易挥发性,通过Bi盐前驱体溶胶在热处理过程中生成Bi2O3,在铁电层BiFeO3生长温度下一方面与Si衬底上的非...
该专利属于北京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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