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本发明公开了一种集成电路测试系统，包括一控制设备、一与所述控制设备相连的测试仪、一与所述测试仪相连的负载板、一与所述负载板相连的自动测试机、一与所述自动测试机相连的被测器件。本发明还公开了一种集成电路测试系统的控制方法，本发明的实现，解决了...
该专利属于成都市中州半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都市中州半导体科技有限公司授权不得商用。

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