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具有穿通访问的垂直非易失性开关及其制造方法技术
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文档序号:8134030
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提供一种用于访问非易失性存储器单元的半导体器件。在一些实施例中,半导体器件具有包括源极、漏极和阱的半导体层的垂直叠层。向半导体器件施加漏极-源极偏置电压产生跨阱的穿通机制以在源极和漏极之间发起电流流动。...
该专利属于希捷科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过希捷科技有限公司授权不得商用。
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