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本发明公开了一种LED外延片的检测方法及装置。该方法包括：在LED外延片的上、下端面之间施加一交流方波电压，并且所述交流方波电压的大小足以驱动LED外延片发光。该装置包括：用于承载LED外延片的导电基底，且所述导电基底与LED外延片下端面接...
该专利属于苏州纳方科技发展有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州纳方科技发展有限公司授权不得商用。

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