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用于非易失性存储器的刷新架构及算法制造技术
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下载用于非易失性存储器的刷新架构及算法的技术资料
文档序号:8109367
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本发明涉及用以刷新例如相变存储器的非易失性存储器装置的方法及系统。在一实施例中,依据系统状态,存储器装置使用有裕度的读取参考电平来执行对存储器单元的第一刷新,或使用无裕度的读取参考电平来执行对经错误校正的存储器单元的第二刷新。...
该专利属于美光科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过美光科技公司授权不得商用。
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