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本发明提供用以测量与半导体裸片相关联的性能特性且基于所述测得的性能特性来调整时钟信号的电路、系统和相关方法。所述经调整的时钟信号可用以向所述半导体裸片中所提供的功能电路提供时钟信号，以确保所述功能电路在性能、电压、温度PVT延迟变化的情况下...
该专利属于高通股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高通股份有限公司授权不得商用。

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