温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种半导体装置等，即使是在测试环境变动的情形下，也能更高精度地判断半导体集成电路的动作性能。一种半导体装置，能检测半导体集成电路所产生的劣化，包含：测定单元，测定温度及电压；决定单元，在各测试动作频率下对检测对象电路部判别测试内容...该专利属于国立大学法人九州工业大学;国立大学法人奈良先端科学技术大学院大学;公立大学法人首都大学东京所有，仅供学习研究参考，未经过国立大学法人九州工业大学;国立大学法人奈良先端科学技术大学院大学;公立大学法人首都大学东京授权不得商用。