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本发明公开了一种用于晶片的测试分选设备，所述测试分选设备包括：连接缓冲冷却模块，所述连接缓冲冷却模块用于接收和传输晶片并冷却所述晶片；测试模块，所述测试模块与所述连接缓冲冷却模块连接，用于接收并测试所述连接缓冲冷却模块所传输的晶片；以及分选...该专利属于北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司授权不得商用。