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本发明公开了一种检测石墨烯生长质量的方法。所述检测方法包括下述步骤：1)对生长有石墨烯的Cu基底进行处理，使其表面未被石墨烯覆盖的区域发生颜色变化；2)调整光学显微镜的放大倍数或选用适当倍数的光学放大镜，直接在步骤1)处理后的Cu基底上观察...
该专利属于北京大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京大学授权不得商用。

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