一种基于光学显微镜的石墨烯质量检测方法技术

本发明专利技术公开了一种检测石墨烯生长质量的方法。所述检测方法包括下述步骤：1)对生长有石墨烯的Cu基底进行处理，使其表面未被石墨烯覆盖的区域发生颜色变化；2)调整光学显微镜的放大倍数或选用适当倍数的光学放大镜，直接在步骤1)处理后的Cu基底上观察石墨烯；3)根据步骤2)的实验结果确定石墨烯的生长情况，检测石墨烯生长质量，并为快速摸清石墨烯的生长工艺提供指导。本发明专利技术可利用光学显微镜或放大镜直接在生长基底上对石墨烯进行检测。该方法较为廉价、简便、快速，并可以从大的视野范围了解石墨烯的整体生长情况，对科研和实际生产中石墨烯的质量检测和生长工艺摸索有较大的意义。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。
技术介绍
石墨烯是一种具有二维平面结构的碳纳米材料，具有很多优良的性质，如好的透光性、好的导电性、高的机械强度、高的电子迁移率以及热导率(Science 2009，324，1530 ;Rev.Mod.Phys.2009，81，109.)。其在高频电子器件、光电子器件、柔性电子器件等领域有着广阔的应用前景(Nat. Nanotechnol. 2010，5，487 ；Nat. Photon. 2010,4,611.)。目前检测石墨烯质量的方法主要基于扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描隧道显微镜、低能电子显微镜、原子力显微镜、拉曼光谱仪、光学显微镜等(Nat. Mater. 2011,10,443 ；NanoLett. 2010，10，4128 ；ACS Nano, 2011，5，4014 ；Nano Lett. 2010，10，4890 ;Science，2004，306,666 ；Phys. Rev. Lett. 2006,97,187401 ；Appl. Phys. Lett. 2007，91，063124.)，现有的这些检测设备较昂贵，操作过程较繁琐，因此建立本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测石墨烯生长质量的方法，包括下述步骤：1)对生长有石墨烯的Cu基底进行处理，使其表面未被石墨烯覆盖的区域发生颜色变化；2)采用光学显微镜或者光学放大镜直接在步骤1)处理后的Cu基底上观察石墨烯；3)根据步骤2)的观察结果确定石墨烯的生长质量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郭雪峰，贾传成，江蛟龙，
申请(专利权)人：北京大学，
类型：发明
国别省市：