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半导体器件和数据生成方法技术
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文档序号:7896490
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本公开涉及半导体器件和数据生成方法。目标在于提高温度传感器的精度,抑制测试过程中测试温度的数量。半导体器件包括系数计算单元和校正运算单元,系数计算单元计算系数直至N阶(N为大于等于一的整数)的校正函数作为特征函数的N阶近似,特征函数表示由温...
该专利属于瑞萨电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过瑞萨电子株式会社授权不得商用。
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