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本发明公开了一种集成电路转换延迟测试向量精简方法，所述算法包括：结构分析算法、故障点可测试影响锥生成算法、基于故障点可测试影响锥的测试向量精简算法，所述影响锥，是指检测某一故障点，所需要确定PPIs和PIs的最小集合，所述结构分析算法，是指...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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