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本发明提出一种基于三维芯片的扫描测试方法，包括如下步骤：建立用于三维芯片的扫描森林结构；生成测试集和测试周期，并将测试集划分为多个测试向量子集；对多个测试向量子集进行排序并将多个测试向量子集中的测试向量分布在测试周期中；获取测试向量子集的当...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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