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文档序号:7718187
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公开了测量方法和设备。所述测量方法包括如下步骤:由用户在左图像或右图像中选择待测点和参考点;根据左、右图像中的视差计算待测点和参考点的三维坐标;根据参考点的三维坐标计算参考点所在的参考平面;以及根据待测点的三维坐标以及参考平面,计算待测点相...
该专利属于株式会社理光所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社理光授权不得商用。
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