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本发明实施例公开了一种测试装置及其使用方法，涉及电子电路领域，能够较好的刺穿保护膜使得测试探针与测试点电性连接，并且能够在测试过程结束后，及时清洁测试探针头上残留的保护膜，大大地降低了对集成电路的性能的误测的概率。该测试装置，包括测试探针，...
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