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对发光二极管进行光电热老化综合检测的系统及方法技术方案
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下载对发光二极管进行光电热老化综合检测的系统及方法的技术资料
文档序号:7625600
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本发明公开了一种对多颗发光二极管器件在加速老化的同时,原位进行光、电、热综合测试的系统及方法。此检测系统包括发光二极管负载电路板(1)、电参数发生及测试装置(2)、多通道驱动控制装置(3)、光探测装置(4)、光探测控制装置(5)、光信号处理...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。
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