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本发明公开了一种大口径光学非球面元件柱坐标接触式测量方法，利用测量机通过柱坐标测量方式，采集二维或三维数据；包括以下步骤：步骤S1：利用电感测微仪，找正转台面中心和长度计中心；步骤S2：通过电感测微仪将工件找正；步骤S3：确定基准坐标后，移...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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