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本实用新型属于芯片插座领域，具体涉及一种适用于多种芯片的测试插座。目的是解决现有测试插座兼容性差，连接性差的问题。该测试插座包括外壳，位于外壳内部的锁紧动片以及控制锁紧动片锁紧的锁紧杆，在所述锁紧动片上开有多个孔，在所述外壳正面中部按照被测...该专利属于中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所授权不得商用。