专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
美商豪威科技股份有限公司
>
用于CMOS图像传感器的无损杂质掺杂的方法技术
>技术资料下载
下载用于CMOS图像传感器的无损杂质掺杂的方法的技术资料
文档序号:7324307
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种制造背照式像素的方法。该方法包括在基板的正面上或正面中形成像素的正面组件,正面组件包括具有第一极性的感光区。该方法进一步包括在该基板的背面上形成具有第二极性的纯掺杂剂区、将激光脉冲施加至该基板的背面以熔化该纯掺杂剂区,并且使该纯掺杂剂区...
该专利属于美商豪威科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过美商豪威科技股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。