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本发明公开了一种基于双端口SRAM的故障注入方法，包括：在SRAM第一端口的编码器后设置一个第一编码选择器；在第二端口的编码器后设置一个第二编码选择器；以及在SRAM全局设置一个外部控制信号TEST施加到第一编码选择器和第二编码选择器上。本...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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