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一种反应腔漏气检测方法及真空反应器控制方法,为了实现对真空反应器的反应腔进行实时准确的漏气状况检测,同时保证检测步骤不影响产能。本发明提出了新的检测方法:在反应腔内完成对待加工基片的加工后移除待加工基片,进入清洗流程。在清洗流程中通入氧气点...该专利属于中微半导体设备(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中微半导体设备(上海)有限公司授权不得商用。
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一种反应腔漏气检测方法及真空反应器控制方法,为了实现对真空反应器的反应腔进行实时准确的漏气状况检测,同时保证检测步骤不影响产能。本发明提出了新的检测方法:在反应腔内完成对待加工基片的加工后移除待加工基片,进入清洗流程。在清洗流程中通入氧气点...