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本发明提供了一种改进的金属前介质层的构造方法,包括如下步骤:制成一个包括硅衬底的硅片,硅衬底上表面具有多晶硅栅极,多晶硅栅极两侧有源极区和漏极区;在该硅片上表面沉积接触蚀刻停止层;用紫外线对所述氮化硅层表面进行照射,进一步提高氮化硅层的拉伸...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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本发明提供了一种改进的金属前介质层的构造方法,包括如下步骤:制成一个包括硅衬底的硅片,硅衬底上表面具有多晶硅栅极,多晶硅栅极两侧有源极区和漏极区;在该硅片上表面沉积接触蚀刻停止层;用紫外线对所述氮化硅层表面进行照射,进一步提高氮化硅层的拉伸...