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本发明公开了一种电容的器件失配的修正方法，首先，确定电容的工艺失配参数为3个，分别为面积型电容密度、周长型电容密度、电容值；其次，设定这3个参数的随机偏差；再次，对电容的器件失配进行修正。本发明可以在SPICE软件中对电容的器件失配进行仿真...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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