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本发明适用于电子技术领域，提供了一种DRAM控制器时序校验功能的验证方法及系统，所述方法包括：按预设静态时延值进行静态时延，静态时延值是在指定范围内的随机值或遍历值，产生对与DRAM控制器连接的数据传输总线所执行的操作进行描述的测试用例事务...
该专利属于安凯(广州）微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安凯(广州）微电子技术有限公司授权不得商用。

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