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本发明涉及一种晶片传送方法及装置，该方法包括如下步骤：检测晶片是否偏离指定位置；晶片偏离指定位置时，停止传送晶片。本发明传送晶片之前，检测晶片是否偏离指定位置，当晶片偏离指定位置时，使晶片存储升降装置停止传送晶片，从而避免了晶片偏离指定位置...该专利属于无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司授权不得商用。