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本发明涉及测量沉积在基板(2)上的涂层层(7)厚度的系统和方法。在涂层从涂层辊(3)转移到基板(2)之前和之后测量涂层辊(3)上的涂层层(4，8)的厚度中从而间接测量基板(2)上的涂层层(7)的厚度。为测量涂层辊(3)上的涂层层(4，8)的...该专利属于利乐拉瓦尔集团及财务有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过利乐拉瓦尔集团及财务有限公司授权不得商用。
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本发明涉及测量沉积在基板(2)上的涂层层(7)厚度的系统和方法。在涂层从涂层辊(3)转移到基板(2)之前和之后测量涂层辊(3)上的涂层层(4，8)的厚度中从而间接测量基板(2)上的涂层层(7)的厚度。为测量涂层辊(3)上的涂层层(4，8)的...