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一种高精度测量调整光学镜片中心偏差的光学系统，属于光学检验测量技术领域中涉及的一种镜片中心偏差测量调整的光学系统。本发明要解决的技术问题是：提供一种高精度测量调整镜片中心偏差的光学系统。技术方案包括：光源、聚焦镜、针孔、准直透镜、半波片、偏...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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