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本发明提供了分流缺陷探测设备，其包括用热隔离底座固定地持有的待测设备(DUT)、设置为向DUT提供定向偏压条件的电源、设置为从该电源向DUT提供局部电源的探针、设置为在定向偏压条件下测量自DUT的瞬时发射的发射探测器，其中所测得的瞬时发射作...
该专利属于拓科学股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过拓科学股份有限公司授权不得商用。

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