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本发明提供一种ＬＥＤ芯片测试装置，所述ＬＥＤ芯片测试装置测量ＬＥＤ芯片的特性。所述ＬＥＤ芯片测试装置包括：转动构件，所述转动构件支撑所述ＬＥＤ芯片并且使所述ＬＥＤ芯片转动到测试该ＬＥＤ芯片的特性的测试位置；以及测试机，所述测试机与所述转动构...
该专利属于ＱＭＣ株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过ＱＭＣ株式会社授权不得商用。

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