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本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置,该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38),该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13),...该专利属于GE传感与检测技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过GE传感与检测技术有限公司授权不得商用。
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