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本发明所提供的光信息介质测定方法，用于测定具有多层信息层的多层结构的光信息介质的调制度，包括利用测定光学系统测定所述光信息介质的各层的调制度的第１步骤、求出所述光信息介质的各层间的厚度的第２步骤、求出所述光信息介质的各层的反射率的第３步骤，...
该专利属于松下电器产业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。

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