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一种电子元件的接触单元的测位方法及装置制造方法及图纸
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下载一种电子元件的接触单元的测位方法及装置的技术资料
文档序号:7139870
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本发明涉及一种利用x,y和z三维的比例因子对电子元件上接触单元(2,3)进行测位的方法及装置。在校准过程中测定比例因子,同时该校准过程也确立系统中照相机与照相机之间的位置关系。校准操作先定位一号照相机(4)拍摄的图像点,通过该图像点对应得到...
该专利属于伟特机构有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过伟特机构有限公司授权不得商用。
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