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本发明提供一种不会使装置大型化，可高精度且低成本地进行多个项目的检查的自动分析装置。具有测光机构（７０）和流动系分析机构（４０ａ）、（４０ｂ）的多个项目的检查机构的自动分析装置（１），具备共用盘（反应和前处理兼用盘）（２０），在该共用盘（２...
该专利属于株式会社日立高新技术所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社日立高新技术授权不得商用。

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