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本发明公开了一种相变存储器芯片测试方法及系统。所述的相变存储器芯片测试方法能准确的测量相变存储器芯片的读写电路、选通电路、寻址能力、随机读写、抗串扰能力、初值检测和寻找合适擦写脉冲参数；所述的测试系统是由主控计算机，控制软件、下位机微控器、...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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