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基于压电阻抗法的热障涂层热生长氧化层无损检测方法技术
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下载基于压电阻抗法的热障涂层热生长氧化层无损检测方法的技术资料
文档序号:7119934
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一种基于压电阻抗法的热障涂层热生长氧化层无损检测方法,属于材料无损检测与评价技术领域。该系统由阻抗分析仪、压电晶片、涂层试样、计算机等组成。首先利用强力胶将压电晶片固定到涂层试样待检测部位,焊接导线并校正阻抗分析仪。然后利用阻抗分析仪在兆赫...
该专利属于大连理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过大连理工大学授权不得商用。
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