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提供了一种用于半导体芯片的晶片级测试的系统和方法。在一个实施例中，该系统包括：设置在晶片中的多个半导体芯片，每个半导体芯片具有用于接收测试数据的至少一个端口；以及至少一个连接，在晶片的切缝区域中设置在所述多个半导体芯片中的第一半导体芯片的至...
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